非接触式半导体计量分析技术的开发和生产 ,攻克被国外卡脖子技术。
产品广泛应用于半导体、光伏、科研以及平板材料测试领域。借助公司先进计量分析测试技术,为晶圆、碳化硅、硅片、氧化镓、封装测试等生产和品质监控,提供一整套完整测试和解决方案。
晶圆电阻率测试仪,硅片电阻率测试仪,涡流法低电阻率分析仪,晶锭电阻率分析仪,迁移率(霍尔)测试仪,少子寿命测试仪,
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